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分析TD-LTE技能實驗體系幀構造測驗分項
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分析TD-LTE技能實驗體系幀構造測驗分項
2016-01-26    來源:正航儀器    作者:網絡編輯  閱讀:
正航儀器詳細圖
✲ 測驗項目:幀構造
✲ 測驗分項:上行/下行裝備1(子幀裝備:DSUUDDSUUD)、慣例長度CP、特別子幀裝備7(DwPTS:GP:UpPTS=10:2:2)。
✲ 測驗意圖:驗證E-UTRAN支撐5ms下行-上行轉換點周期,子幀裝備為:DSUUDDSUUD;支撐DwPTS:GP:UpPTS=10:2:2的特別子幀裝備。
✲ 測驗條件:eNodeB和合作測驗終端硬件、軟件均支撐上行/下行裝備1,特別子幀裝備7;UE已簽約。
✲ 測驗進程:裝備eNodeB體系上行/下行裝備、特別子幀裝備7,挑選裝備20MHz體系帶寬;使裝備收效,E-UTRAN小區開端正常作業。
✲ 用矢量信號分 析儀在對eNodeB、終端的發射信號進行時域分 析;測驗終端在該小區開機進行隨機接入;測驗終端進行RRC銜接樹立、無線承載樹立等進程,并調查體系給終端調度的上行、下行資本塊地點子幀方位。
✲ 預期成果:裝備的小區能正常運轉;幀構造契合裝備預期;終端接收到的SIB1中的subframeAssignment為sa1(裝備1),specialSubframePatterns為ssp7(裝備7);測驗終端能在該小區正常接入;測驗終端能在該小區正常樹立數據無線承載;能夠驗證體系能在悉數(慣例)上行子幀、下行子幀內調度終端(調度給不一樣UE或先后調度給同一UE)。
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